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簡(jiǎn)要描述:UV-A雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
UV-A雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
UV-A雙通道紫外輻照計(jì)主要技術(shù)指標(biāo):
探頭: | UV-420nm 探頭 | UV-365nm 探頭 |
波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng): | λ:(375~475)nm;λP=420nm | λ:(320~400)nm;λP=365nm |
紫外帶外區(qū)雜光: | UV420:小于0.02% | UV365:小于0.02% |
輻照度測(cè)量范圍: | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
相對(duì)示值誤差: | ±10%(相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)) | |
角度響應(yīng)特性: | ±5%(α ≤10°) | |
線性誤差: | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性: | ±1%(開(kāi)機(jī)30min后) | |
響應(yīng)時(shí)間: | 1秒 | |
使用環(huán)境: | 溫度(0~40)℃,濕度<85%RH | |
尺寸和重量: | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源: | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 | |
特點(diǎn):
* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
* 數(shù)字液晶顯示,帶背光
* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
* 數(shù)字輸出接口(USB冗余供電)
* 低電量提醒
* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
附錄:
探頭光譜響應(yīng)曲線
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